通過(guò)配備的三綜合試驗(yàn)臺(tái)、高溫老化箱進(jìn)行模擬實(shí)驗(yàn)，使產(chǎn)品的早期故障缺陷提前暴露，提高產(chǎn)品的可靠性；通過(guò)電路板帶電測(cè)試臺(tái)及測(cè)試工裝，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行加電測(cè)試，對(duì)帶電狀態(tài)下的各參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，對(duì)電路板的性能及工作狀態(tài)進(jìn)行直接判斷。